StilFrost™-5K
超高真空杜瓦式低温扫描探针显微镜系统，采用新型潘式扫描探头，兼容qPlus AFM，可扩展光学、磁学、电学测量模块，并支持MBE原位样品制备与快速样品传输。
产品描述
主要特点 / MAIN FEATURE
● 独特性设计的扫描头,大幅提升光激发与光收集效率,有效避免激光聚焦光斑的微抖动问题
● qPlus传感器具有极低的背底振幅噪音(~2 pm)和优异的品质因数(最高100000)
● 可SPM腔内原位沉积
● 制备腔配液氦型多轴样品台，可用于低温沉积
测试数据 / TEST DATA
技术参数 / TECHNICAL DATA
| 工作温度 | <5K (不打开光口) | |
| X/Y/Z粗移动范围 | 3×3×6 mm | |
| X/Y/Z扫描范围 | ≥4×4×1 μm@±220 V RT | |
| ≥1.5×1.5×0.4 μm@±220 V LT | ||
| 分辨率 | XY方向-0.1 nm, Z方向-0.1 nm | |
| 温度漂移 | Z方向温度漂移≤100 pm/h@LT | |
| XY方向温度漂移≤200 pm/h@LT | ||
| STM性能 | Z方向振动<2 pm | |
| 成像最小隧穿电流≤2 pA (外置前置放大器) | ||
| HOPG/Au(111)原子级图像 | ||
| AFM性能 | Si(111)/NaCl(100)图像 | |
| 振幅<10 pm | ||
| 灵敏度优于350fN/Hzl/2 | ||
| 光学 | 非球面透镜(1个/2个) | |
| 数值孔径0.38 | ||
| 移动行程3X3X3 mm | ||
系统尺寸 / DIMENSIONS
相关文件 / DOWNLOAD
京公网安备 11011602001024号